| 日時 | 2024年12月11日(水) 16:00～ |
| 実施方法 | オンライン開催（Zoom） |
| 話題提供者 | 榎本晃大氏（慶應義塾大学 近藤研究室） |
| 題目 | In–situ電子収量-軟X線XAFSと光触媒分析への適用 |
| 概要 | 軟X線XAFSは、軽元素や3d遷移金属の化学状態を詳しく調べるための有力な手法として 注目されています。私たちは、表面敏感なin–situ電子収量-軟X線XAFSシステムを開発し、 表面で反応が進行する不均一触媒のその場観測を行うことで、触媒反応のメカニズムへ の理解を深めています。本講演では、このシステムを用いて調べた、光触媒における 助触媒表面への電荷移動についての研究を紹介し、今後の軟X線XAFSの発展性について もお話しいたします。 |
| 主催 | 日本XAFS研究会 |
| 参加資格 | 日本XAFS研究会 会員（正会員・学生会員） |
| 参加申込 | 以下のURLリンク先（Google フォーム）よりお申し込みください。 https://docs.google.com/forms/d/1vKHn6PFthiv4QRxKhkGOwsDp8Ss8SSOLugFF18X590A/viewform?edit_requested=true 前日にZoomアドレスをお知らせします。 |
| 担当幹事/問合せ先 | 吉田真明 E-mail : yoshida3_at_yamaguchi-u.ac.jp（_at_を@に変換してください） |
